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激發光譜分析圖反射率型XX電子束熒光光譜分析圖儀與能力反射率型XX電子束熒光光譜分析圖儀的的區別 

1、原理區別

X-電子束熒光光譜分析儀法,是用X-電子束管長出的初 級整車線束輻仍舊品，增強各物理種營養設計稀土設計元素長出第二次譜線 (X-熒光)。光主波長折射率型熒光光儀(WD-XRF)是 用分光晶狀體將熒光粒子束折射率后，檢驗很多種營養設計稀土設計元素的 癥狀X-電子束光主波長和標準，所以檢驗很多營養設計稀土設計元素的含 量。而熱量折射率型熒光光儀(ED-XRF)是只依靠高 識別率敏感度半導體芯片檢則器與多道具體分析器將未折射率 的X-電子束熒光按光量子熱量分離處理X-電子束光譜分析儀線， 依據很多營養設計稀土設計元素熱量的高下來檢驗很多營養設計稀土設計元素的量。可能 方式有差異 ，故器材框架也有差異 。

2、功能區別 

考慮一下到不同的條件，力量散射型熒光儀和主光波激發光譜 散射型熒光儀的檢側限首要一模一樣。但在短波(高 能電子束)的的范圍內力量散射的簽別率最合適，在長波 (低能電子束)的的范圍內，主光波激發光譜散射的簽別率最合適。就 確定解析來看，總的一般來說依然是力量散射法好，又 快又便利。就定量深入深入分析解析來看，在解析多成分時 力量散射遠高于單道晶狀體譜儀。就測量方法偶有解析元 素來看，主光波激發光譜散射最合適。如果解析的成分事要不 得知，用力量散射最合適，而解析成分如圖則用多 道晶狀體散射儀好。對易受蔓延性直接損傷的樣本，如 液體、設計物(很有可以會出現輻射源吸附)、破璃品、工 藝品(很有可以會出現退色)等,用力量散射型熒光儀 解析特殊優勢。力量散射型熒光儀很不宜動態化系 統的深入分析。就比如催化劑的作用、腐蝕不銹鋼、老化測試、損耗、改性材料 和力量轉型等與表層耐腐蝕具體步驟想關的深入分析。 總之，能量色散型熒光和波長色散型熒光這 兩種儀器，各有各優點和不足,它們只能互補,而 不能替代。