一、
xx射線熒光剖析一般道理
所謂熒光,就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述x射線熒光的分析,確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線熒光分析儀。用x射線熒光分析儀測量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測試方法。這種方法是將一束初級x射線照射被分析的樣品,使樣品中的每種元素的原子都發射出各自特征的x射線熒光。于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發后躍遷時放出的x射線的能量也是特定的,稱之為特征x射線。通過測定特征x射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征x射線的強弱(或者說x射線光子多少)則代表該元素的含量。
二、x射線熒光分析儀的分類
1.根據分光方式的不同,x射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類,也就是通常所說的能譜儀和波譜儀。通過測定熒光x射線的能量實現對被測樣品分析的方式稱之為能量色散x射線熒光分析,相應的儀器稱之為能譜儀,通過測定熒光x射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長色散x射線熒光分析,相應的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。
2.根據激發方式的不同,x射線熒光分析可分為源激發和管激發兩種:用放射性同位素源發出的x射線作為原級x射線的x射線熒光分析儀稱為源激發儀器,其特點是體積較小、結構簡單,價格低廉;用x射線發生器(又稱x光管)產生原級x射線的x射線熒光分析儀稱為管激發儀器,特點是體積較大、輸出強度高且可調,價格也較昂貴。以上我們介紹了x射線熒光分析儀的基本原理及其主要類型,下面我們著重闡述一下用x射線熒光分析技術無損檢測貴金屬首飾含量所應注意避免的誤區。
誤區1:強調“熒光”
誤區2:重硬件輕軟件和技術
誤區3:重價格輕服務
價格當然是選購商品的重要因素,但不應當是決定性因素。分析儀器各部件質量及其價格懸殊極大,并且直接決定了儀器的售價,單純追求價格便宜,很難保證質量。對于x熒光分析儀這樣的設備來說,服務往往更為重要。這里所說的服務不僅指安裝調試備品備件供應維修服務等,更為重要的是應用技術服務。
誤區4:片面追求準確度忽視精密度
誤區5:分析時間越短越好
X射線測量是隨機事件的統計測量,是由統計規律決定的,計數的絕對量取決于測量時間,并直接決定著測量誤差的大小,足夠長的測量時間是測量精度的前提條件,為了保證測量精度,必須有足夠的測量時間以及足夠的計數率。
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