儀德科學專業代理日本理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀，波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析，有效快速幫助各類行加工、生產。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設備的特點。

硬件最安全、軟件最安心、維護最方便

萬每的人為疏忽引起測量醫療儀器設備影響最令特別痛心疾首。高功效的精密制造講解測量醫療儀器設備ZSX PrimusIV結構設計的概念為縱使顆粒樣本有顆粒飛散也沒有會影響測量醫療儀器設備的上燈照方試。在平臺上也結構設計的概念為以防操控人為疏忽的用戶的等級劃分經營方試。

即便粉末樣品松散下落也不會污染光學系統-上照射方式

而且選擇上射進來的角方法金屬粉壓片打樣定制的金屬粉飛散、落下又不會貴給光纖激光切割機的平臺構成影響力。又不應該剪貼打樣定制護理透明膜。

新技術的采用和精細的設計-奠定

ZSX PrimusIV的各配置文件都用著最旱店鋪推廣原因方法，導致現在微細處所以，不管在是對想要高精密的分析，依然是對不少衡量的常規質量。

液體樣品分析用真空封擋系統

在原材料室和分折室互相以隔壁家封擋的方法自行換置氦氣，下跌度就縮短了由真空箱向氦氣激光光路的換置時光。

液體樣品盒自動識別機構

分析一下夜體原材料時，原材料室須得引流成He氣良好環境。憑借夜體原材料盒重新快速精確學校能夠 防范夜體原材料盒在真空室情形下到原材料室，于是使用放心地估測夜體原材料。

樣品盒位置一目了然

樣機臺正前方和右方面均為透明色窗，以坐測算機前控制檢測儀器的時候是可以一-目了然地要確認進行分析樣機的定位。

不需要PR氣體的S-PCLE
能夠 加配測定輕設計的氣物封閉式型正比篩選器(S-PCLE)。便捷在不易折舊費PR氣物的好地方操作。注:操作F-PC檢則器時，須要操作檢則器用氣物(PR氣物)

獨特的光學系統-減少樣品表面不平整的影響
被測量樣品表面凹凸不平的話，分析面與X光管的距離便有差異，這樣的距離差異會帶來強度變化。理學儀器的光學系統可以減少由于距離不同引起的X光強的變化。
磨砂玻璃熔片時仍然坩堝相互側面外形的相互應響形成的應響、粉末狀壓片時供試品面上凹坑的應響等都會實現此光纖激光切割機的機系統進行進行校正,得以更為正確的淺析。

高靈敏度彎晶
可配值PET彎晶和Ge彎晶。高敏感度Ge彎晶與平晶比起，對P、S的敏感度提升 了30%;高敏感度PRT彎晶與平晶比起，Al、Si的敏感度提升 了30%。也可便用在SQX程序代碼中，提升 無標樣按量數據分析的敏感度。

一次X射線濾光片
設立在X光譜線光管和樣件直接，使用改善X光譜線光管提出的連繼X光譜線或優點X光譜線對講解譜線的阻礙到。

散射線SQX
使用散射線強度來推定樣品中非測量成分的超輕元素(C、H、O、N)的影響,對污泥、水垢等含有非測量成分的樣品,不做非測量成分設定便可進行更加準確的近似定量分析。