日本國理學激發光譜探討折射率X光譜探討線熒光光譜探討儀,迅猛按量設計元素探討的高能WDXRF!
上作用式吸光度折射率X放射線熒光光譜儀儀
ZSX Primus III+
理學ZSX Primus III+出具最主要的和次責氧分子設計元素的加快按量測量,從氧(O)到鈾(U)的低點標的廣泛的合格品類。
寬度正規性的上影響式光學玻璃控制系統
ZSX Primus III+包括場新的上直射式光學材料配值。移動用戶就還要擔憂成隨著維護保養樣機室導致的路勁弄臟或中斷的準確時間。上直射式幾何式架構解決了掃除的擔憂成并增多了的準確時間。
高精確度原材料定位系統
高精密度較土樣講解保證 了土樣的外面與X設吸引管相互的遠距離勻速運動。這對如鎂合金講解等所需高精密度較的用途十分的重要性。ZSX Primus III+實用某個差異化的的光學反應配資程序執行高精密度較講解,使用在下降原因如電熔銖和壓片等土樣中的非平面設計的外面影響的不對。
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用戶數選用EZ復印APP能能在不需一點事要設立需先研究地段原輔料。你這個降低用時的特性僅需點一下鼠標滾輪和輸出原輔料稱謂。運用SQX總體指標APP,飛速供應最正確的XRF結果。SQX也可不可以自動式校零包擴線相同的一切矩陣的特征值效率。SQX還能能確認光學子(輕、超輕營養元素)、變化無常的情況、雜物和的不同的原輔料尺寸圖校零輔助性的發揮反應。選用一致庫和完美無缺的復印研究應用程序改善正確性。
上光照式光波波長反射率X放射線熒光光譜分析儀:
從O到U的屬性定性分析
上照射到式光電器件比較小化破壞
小征地賠償占地合理節省實驗室室內空間
高可靠性強,精密度樣本追蹤定位
特有光電削減會因為彎曲成的樣品英文漆層會造成的報錯
統計顯示整個過程操縱(SPC)的PC軟件器具
網站優化加制冷劑和機械泵透漏率增強周轉量